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SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀獲國家發明專利
近日，國家知識產權局向上海東華凱利新材料科技有限公司研制成功的SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀頒發了國家發明專利證書，該測量儀填補國內空白，并獲得了上海市科技型中小企業創新基金項目資助。
根據國家標準，紡織纖維雙折射率有貝克線法、干涉法和補償法。國內傳統的固定光程差補償法，這種制作晶體補償片組合的方法，采用手動調整光程差，操作不方便，測量精度不高。同時，需要許多規格不同的補償片，其補償范圍窄，不適合種類繁多的新材料雙折射的測量。
為了克服現有技術的缺陷，SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀突破了傳統的有級差晶體光程差補償，使用新穎的無級差光程補償`，由連續轉動的含微調功能的晶體補償裝置，產生的光程差相對于轉動角度呈線性關系，運用全波長對纖維雙折射進行精確的測量，展示纖維雙折射隨拉伸形態過程連續變化的規律。
責任編輯：李平
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